
PAL75-B測(cè)試探針的特點(diǎn)
文章出處:常見(jiàn)問(wèn)題 責(zé)任編輯:深圳市華榮華電子科技有限公司 閱讀量:- 發(fā)表時(shí)間:2025-03-18 00:00:00
標(biāo)簽:雙頭探針 ICT頂針 ICT探針 ICT測(cè)試針 探針
PAL75-B探針具有以下特點(diǎn):
1. 材質(zhì)優(yōu)良
針管:采用磷銅管鍍金,這種材質(zhì)具有良好的導(dǎo)電性和耐腐蝕性,能夠保證電流的穩(wěn)定傳輸,同時(shí)防止針管在惡劣環(huán)境下生銹或被腐蝕。
彈簧:使用不銹鋼線制成,不銹鋼具有較高的強(qiáng)度和韌性,使得彈簧能夠提供穩(wěn)定的彈力,確保探針與測(cè)試點(diǎn)之間的可靠接觸,并且在長(zhǎng)期使用過(guò)程中不易變形或損壞。
套管:為黃銅管鍍金,黃銅具有良好的導(dǎo)電性和導(dǎo)熱性,鍍金層則進(jìn)一步提高了其抗氧化能力和導(dǎo)電性能,同時(shí)也增強(qiáng)了探針的美觀度。
針桿:有磷銅鍍鎳或鈹銅(SK4)鍍金兩種材質(zhì)選擇。磷銅鍍鎳的針桿具有良好的耐磨性和導(dǎo)電性,而鈹銅(SK4)鍍金的針桿則具有更高的強(qiáng)度和硬度,能夠更好地保持針桿的形狀和尺寸穩(wěn)定性,從而提高測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性。
2. 電氣性能良好
低接觸電阻:額定電流為3安培時(shí),接觸電阻僅為50毫歐姆,低接觸電阻能夠減少測(cè)試過(guò)程中的能量損失和信號(hào)衰減,提高測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性,特別適用于對(duì)電阻要求較高的精密測(cè)試。
良好的導(dǎo)電性:探針的材質(zhì)和結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)使其具有優(yōu)良的導(dǎo)電性能,能夠快速、準(zhǔn)確地傳輸電信號(hào),保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
3. 機(jī)械性能穩(wěn)定
合適的接觸彈力:接觸彈力為120g,既能夠保證探針與測(cè)試點(diǎn)之間的緊密接觸,又不會(huì)因彈力過(guò)大而對(duì)測(cè)試點(diǎn)造成損傷,確保測(cè)試過(guò)程的穩(wěn)定性和可靠性。
精確的尺寸規(guī)格:鉆孔尺寸為1.40mm等精確的尺寸規(guī)格,使得探針能夠與測(cè)試設(shè)備和電路板上的測(cè)試點(diǎn)精確匹配,提高測(cè)試的效率和準(zhǔn)確性。
綜上所述,PAL75-B探針憑借以上特點(diǎn),在電子測(cè)試領(lǐng)域表現(xiàn)出色,為精準(zhǔn)、高效的測(cè)試工作提供了有力支持。